ABI Electronics · 電路板故障定位
SYSTEM 8 電路板故障定位器 (BFL)
在電路板上精準定位類比、數位與混合元件的故障
SYSTEM 8 Board Fault Locator (BFL) 結合多種業界公認的測試技術，能在電路內 (in-circuit) 與電路外 (out-of-circuit) 對常見數位 IC 進行功能測試，並定位故障元件與接點。它協助維修工程師快速找出故障 IC、斷裂線路、短路、浮接輸入、中間電位輸出、虛焊與漏電節點，是電子維修與保修實驗室的故障定位利器。
產品概觀
SYSTEM 8 電路板故障定位器 (BFL) 是一套以高故障涵蓋率為目標的電路板測試解決方案，能對電路板上從離散二極體、電晶體到複雜積體電路的類比、數位與混合元件進行功能測試。BFL 模組可在電路內與電路外 (TTL 或 CMOS) 進行測試，並識別與定位故障 IC、斷裂線路、短路、浮接輸入、中間電位輸出、虛焊及漏電節點。其元件函式庫涵蓋從 NAND 閘到 CPU 的廣泛範圍，並支援 DIL、SOIC、PLCC、QFP 等穿孔與表面黏著封裝。內建 Digital V-I Tester、Digital IC Identifier、EPROM Verifier 與 Short Locator 等工具，搭配 TestFlow Manager 與 Graphical Test Generator，可建立標準與自訂邏輯測試。系統提供 64 通道基本配置，並能以 64 通道為單位擴充至 256 通道，支援良品與不良品電路板的即時比對。
主要規格
| 測試方式 | 電路內 (in-circuit) 與電路外 (out-of-circuit) 測試 |
|---|---|
| 邏輯系列 | TTL 或 CMOS |
| 基本通道數 | 64 通道 |
| 通道擴充 | 以 64 通道為單位擴充，最高至 256 通道 |
| 支援封裝 | DIL、SOIC、PLCC、QFP（穿孔與表面黏著） |
| 元件函式庫範圍 | 從 NAND 閘到 CPU |
| 內建測試工具 | Digital V-I Tester、Digital IC Identifier、EPROM Verifier、Short Locator |
| 測試建立 | TestFlow Manager、Graphical Test Generator（標準與自訂邏輯） |
| 安裝方式 | 內建 PC 機殼（需一個空的 CD-ROM 槽）或外接 MultiLink 機殼（USB 介面） |
產品特點
精準定位電路板故障
識別並定位故障 IC、斷裂線路、短路、浮接輸入、中間電位輸出、虛焊與漏電節點，協助工程師快速鎖定問題所在。
電路內與電路外測試
可在電路內 (in-circuit) 與電路外 (TTL 或 CMOS) 對常見數位 IC 進行功能測試，結合多種業界公認技術達到高故障涵蓋率。
廣泛封裝與元件支援
支援 DIL、SOIC、PLCC、QFP 等穿孔與表面黏著封裝，元件函式庫涵蓋從 NAND 閘到 CPU 的廣泛範圍。
可擴充通道架構
提供 64 通道基本配置，並能以 64 通道為單位擴充至 256 通道，支援良品與不良品電路板的即時比對。
整合式測試工具組
內建 Digital V-I Tester、Digital IC Identifier、EPROM Verifier 與 Short Locator，一站滿足多元故障診斷需求。
圖形化測試產生
透過 TestFlow Manager 與 Graphical Test Generator 建立標準與自訂邏輯測試，簡化測試流程的規劃與管理。
應用場景
電子製造維修
SMT 與插件板的在線 IC 功能測試
在電路板組裝完成後，工程師無需拆焊即可對板上 TTL/CMOS 數位 IC（包括 DIL、SOIC、PLCC、QFP 封裝）進行在線功能測試，快速判斷 IC 是否正常動作及接線是否正確，大幅縮短電子製造廠與維修站的故障排查時間。
航太與國防 MRO
關鍵任務電路板的比對測試與故障定位
航太、國防及鐵路等行業的維修保養組織，可將疑似故障板與已知良品板進行即時多通道比對測試（最多 256 通道），迅速鎖定差異元件，有效應對零件停產與 OEM 停止支援所帶來的維修挑戰。
未通電板件診斷
V-I 特徵掃描排查短路與元件劣化
在無需對電路板供電的情況下，透過 V-I 曲線特徵分析，可有效偵測短路、斷路及元件特性異常，特別適用於現場收回的故障板件或高壓設備維修前的安全預檢，降低通電損壞風險。
選配與配置
勾選您需要的選配，系統會整理配置清單並帶入詢價表單。
標準配備（已包含）
硬體選配 — 通道擴充與介面
選配附件 — 測試夾具與探針
資源下載
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