ABI Electronics · PCB 故障診斷
SYSTEM 8 進階矩陣掃描器 (AMS)
具頻率掃描功能的 V-I 特徵測試儀，在斷電狀態下提高 PCB 故障涵蓋率。
SYSTEM 8 進階矩陣掃描器 (AMS) 是 SYSTEM 8 系列的最新成員，採用獨特的 V-I 特徵測試技術，在電路板斷電的安全條件下分析元件與完整 PCB 組件。透過改變測試訊號頻率並以 3D 呈現特徵變化，AMS 能偵測標準 V-I 分析無法發現的內部損壞與異常元件，協助維修工程師提高故障涵蓋率並縮短診斷時間。
產品概觀
SYSTEM 8 進階矩陣掃描器 (AMS) 是 ABI Electronics 為類比與數位電路板故障診斷所開發的創新模組，透過在測試點施加經電流限制的交流電壓並量測產生的電流，繪製出該測試點的 V-I 特徵曲線。AMS 的核心優勢在於頻率掃描技術，可在 100 Hz 至 10 kHz 範圍內改變交流訊號頻率，並以三維方式呈現特徵的變化，使滲漏元件、內部損壞、數值錯誤與不一致元件等故障無所遁形。所有測試皆在斷電條件下進行，降低元件受損風險，並讓完全無法開機的故障板也能被診斷。每個模組配備 64 個測試通道（可擴充至 2,048）以及 4 組探棒，可快速擷取高接腳數元件與整片電路板的特徵；矩陣 V-I 模式更以多重參考方式擷取每一接腳對所有其他接腳的特徵，產生前所未有的資料量以找出最隱蔽的故障。AMS 並提供脈衝輸出進行動態 V-T 測試，搭配自動即時與儲存波形比對遮罩，廣泛應用於航太、軌道交通、國防、汽車與工業維護等領域。
主要規格
| 測試通道數 | 64 通道 + 4 探棒（每模組，可擴充至 2,048 通道） |
|---|---|
| 測試電壓 | 2 V 至 50 V 峰對峰值 |
| 電壓解析度 | 12 位元輸出波形，10 位元擷取波形 |
| 測試頻率（靜態） | 1 Hz 至 10 kHz |
| 測試頻率（掃描） | 100 Hz 至 10 kHz |
| 測試電流 | 1 µA 至 250 mA |
| 訊號源阻抗 | 100 Ohm 至 1 MOhms |
| 波形模式 | V-I、V-T |
| 波形顯示 | 多重繪圖含單一波形縮放；3D 投影含頻率平面 |
| 脈衝輸出 | 4 組；每通道最多 4 個週期；振幅可調整至 ±10 V |
| 比對容差（遮罩） | 使用者可調整，2% 至 25% 滿刻度 |
| 封裝支援 | Probes、DIL、SOIC |
產品特點
頻率掃描 V-I 特徵測試
透過在 100 Hz 至 10 kHz 範圍內改變測試訊號頻率取得 V-I 特徵，並以 3D 曲線呈現特徵隨頻率的變化，可發現標準 V-I 分析無法察覺的故障。
斷電安全診斷
所有特徵均在電路板未通電的狀態下取得，降低測試對元件的損壞風險，並可診斷完全「無法開機」的故障板，亦適合半熟練操作人員安全使用。
矩陣 V-I 多重參考測試
以矩陣模式擷取每一接腳對所有其他接腳的 V-I 特徵（20 接腳元件可產生 400 組特徵），相較單一參考點能找出最難偵測的隱性故障。
64 通道高速擷取
每模組配備 64 個測試通道（可擴充至 2,048），可一次擷取高接腳數元件與完整電路板組件的特徵，大幅縮短測試時間且無須逐一手動檢測。
脈衝動態 V-T 測試
提供 4 組可設定的脈衝輸出，脈衝振幅可調整至 ±10 V，每通道最多 4 個脈衝週期，支援動態 V-T 分析以擴展測試應用範圍。
自動比對與遮罩判定
支援即時與已儲存波形比對，並以自動比對遮罩進行良莠判定，比對容差可由使用者調整，方便建立可重複的測試流程。
應用場景
維修保障
無法上電的受損電路板故障診斷
當電路板因過壓、燒毀或未知原因無法安全通電時，AMS 透過多頻率 V/I 特性曲線掃描，在斷電狀態下比對各腳位的阻抗指紋，快速定位短路、開路或受損元件，廣泛應用於鐵路（如 SNCF、台北捷運）、航太及國防設備的外場維修作業。
高密度IC測試
多腳位大型積體電路與複雜模組的快速掃描
AMS 標配 64 通道並可擴充至 2048 通道，透過多通道連接器一次接觸 BGA、FPGA、DSP 等高腳數元件的所有引腳，自動執行頻率掃描並生成各腳位特徵曲線，大幅縮短逐腳手動量測的時間，適用於研發實驗室對複雜板卡的失效分析與可靠度驗證。
來料品管
電子製造產線的自動化進料檢驗與製造缺陷分析
結合 TestFlow Manager 自動化測試序列，工程師可預先建立標準良板的 V/I 指紋資料庫，對進料批次 PCB 進行無電源快速掃描比對，自動標示焊接不良、缺件或錯件等製造缺陷，輸出 QA 報告以支援電子製造廠的產線品管與供應商審核作業。
選配與配置
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標準配備（已包含）
硬體選配
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