ABI Electronics · 類比 IC 在路測試
SYSTEM 8 類比 IC 測試器 (AICT)
24 通道在路類比功能測試，免電路圖即可診斷板卡故障
SYSTEM 8 類比 IC 測試器 (AICT) 是專為在路 (in-circuit) 測試類比積體電路與離散元件而設計的功能測試模組，能在元件焊接於 PCB 上的狀態下進行功能驗證。透過良品板比對 (board comparison) 與強大的 Matrix V-I 測試技術，工程師無需電路圖即可獲得清晰的通過或失敗結果，大幅縮短維修與故障診斷時間。它特別適合電子維修中心、生產線測試與板卡級故障定位的實驗室使用。
產品概觀
SYSTEM 8 類比 IC 測試器 (AICT) 提供 24 個類比測試通道，是 ABI Electronics SYSTEM 8 診斷系列中專責類比元件測試的核心模組。它能對 PCB 上所有常見的類比 IC 與離散元件，依其在電路板上的實際配置進行在路功能測試，無需拆件即可驗證元件功能。模組搭載強大的 Matrix V-I 測試，並提供 V-T (電壓-時間) 脈衝測試功能，可針對如三端雙向可控矽 (triac)、可控矽整流器 (SCR) 等閘極觸發元件進行測試。透過業界廣為採用的斷電 V-I (電壓-電流特徵分析) 技術，AICT 也能測試各類類比與數位元件，並以良品板比對方式給出明確的通過/失敗判定。模組可安裝於具備 CD-ROM 插槽的標準 PC 機殼，或透過 USB 介面連接至外接式 MultiLink 機箱，部署彈性高。
主要規格
| 測試通道數 | 24 類比通道 |
|---|---|
| 測試技術 | 在路類比功能測試 (In-Circuit Analogue Functional Test) |
| Matrix V-I 測試 | 支援 (Powerful Matrix V-I Test) |
| V-T 脈衝測試 | 支援，適用三端雙向可控矽 (triac)、SCR 等閘極觸發元件 |
| V-I 特徵分析 | 斷電 (power-off) V-I 測試技術，適用類比與數位元件 |
| 故障診斷方式 | 良品板比對 (Board Comparison)，免電路圖 |
| 夾具定位 | 自動夾具定位 (Auto clip positioning) |
| 介面 | 標準 USB 介面 |
| 安裝形式 | 可裝入具 CD-ROM 插槽之 PC 機殼，或外接 MultiLink 機箱 |
| 標準配件 | 1x AICT 24 通道模組、1x 類比 IC 測試器線材組、SYSTEM 8 軟體 (CD-ROM) |
產品特點
24 通道在路類比測試
提供 24 個類比通道，可對焊接於 PCB 上的常見類比 IC 與離散元件進行在路功能測試，無需拆件即可驗證元件功能。
強大的 Matrix V-I 測試
內建 Matrix V-I 測試功能，透過電壓-電流特徵分析比對元件接腳特性，快速找出異常元件。
V-T 脈衝測試
提供帶脈衝的 V-T 測試，可針對三端雙向可控矽 (triac)、可控矽整流器 (SCR) 等閘極觸發元件進行測試。
免電路圖故障診斷
採用良品板比對方式，無需原始電路圖即可進行板卡故障診斷，並提供清晰的通過或失敗結果。
斷電 V-I 特徵分析
運用業界廣為採用的斷電 V-I 測試技術，可測試各類類比與數位元件，安全且不需上電。
彈性部署與 USB 連接
可安裝於具 CD-ROM 插槽的標準 PC 機殼，或透過標準 USB 介面連接外接式 MultiLink 機箱。
典型應用場景
電路板維修
在線快速識別故障類比 IC，免除拆焊程序
維修工程師在不拆卸元件的情況下，透過 AICT 模組將板上運算放大器、比較器或線性穩壓器的實測特性與內建 IC 資料庫對比，數秒內鎖定損壞晶片，大幅縮短電路板故障診斷時間並降低拆焊風險。
航太國防維護
航電與軍用系統板級類比電路驗證
適用於航太維修站及國防設備修護場所（如 Collins Aerospace、英國國防部等機構），技術人員以 AICT 對航電控制板上的類比開關與電壓調節器進行功能驗證，確認各項參數符合規格後方可簽放回用，符合嚴苛的可追溯性要求。
進料品管
研發與量產前類比 IC 來料抽測與仿品篩查
研發實驗室或電子製造廠於組裝前對批次採購的運算放大器及線性穩壓器進行抽樣測試，AICT 自動量測關鍵參數並與標準資料庫比對，有效攔截規格外元件及假冒偽劣晶片，保障成品可靠度。
選配與配置
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標準配備（已包含）
硬體選配 / 測試探針附件
軟體選配 / Software Option
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