ABI Electronics · 積體電路測試儀
ChipMaster Compact Pro
手持式離線數位 IC 功能測試儀，最多支援 40 腳 ZIF 插座
ChipMaster Compact Pro 是 ABI Electronics 推出的低成本手持式離線 (out-of-circuit) 數位積體電路測試儀，透過 ZIF 插座最多可測試 40 腳的 IC。只需插入元件並輸入型號，即可自動完成功能測試；內建龐大元件資料庫並具備未知元件搜尋與個別接腳診斷功能，是維修工程師與電子實驗室快速判定數位 IC 良莠的理想工具。
產品概觀
ChipMaster Compact Pro 專為數位積體電路的離線功能測試而設計，可涵蓋 TTL、CMOS、VLSI、Interface、Memory 與使用者自訂 (User) 等類別的元件。本機透過 40 腳 ZIF 插座承接待測 IC，並提供 SOIC 與 PLCC 元件的轉接座選配，以擴充封裝相容性。操作極為簡便，只要插入元件、鍵入型號，機台便會自動執行完整的功能測試，並針對個別接腳提供診斷資訊，協助工程師精準定位故障腳位。針對間歇性故障，內建迴圈 (loop) 測試模式可反覆執行測試以捕捉不穩定的元件；而未知元件搜尋功能則可在不知道型號時比對內建資料庫加以辨識。本機採用 4 顆 AA/LR6 電池供電，方便現場攜帶使用，並可選配電源轉接器供長時間測試；透過 USB 介面搭配選購的 CompactLink 軟體，可自行新增元件至資料庫並建立符合特殊應用的功能測試。
主要規格
| 型號 | ChipMaster Compact Professional (410001) |
|---|---|
| 製造商 | ABI Electronics |
| 測試類型 | 離線 (out-of-circuit) 數位 IC 功能測試 |
| 插座 / 腳數 | ZIF 插座，最多 40 腳 |
| 支援元件類別 | TTL、CMOS、VLSI、Interface、Memory、User |
| 封裝轉接座 (選配) | SOIC、PLCC |
| 電源 | 4 顆 AA/LR6 電池；DC 輸入 6V、850mA max，中心正極，已穩壓 |
| 消耗電流 | 關機 10µA max；待機 30mA；測試時依 IC 而定 |
| 使用者資料庫電壓 | 可程式化 0V 至 5V (使用 CompactLink) |
| 通訊介面 | USB；RS-232 設定 38400 baud, 8 data bits, 1 stop bit, no parity |
| 尺寸 | 約 200mm x 100mm x 55mm |
| 選購軟體 | CompactLink (PC 端，新增元件與建立功能測試) |
產品特點
手持離線 IC 功能測試
透過 40 腳 ZIF 插座承接待測 IC，只需插入元件並鍵入型號即可自動完成完整功能測試，無須將 IC 留在電路板上。
內建龐大元件資料庫
涵蓋 TTL、CMOS、VLSI、Interface 與 Memory 等多種數位元件類別，並可透過 CompactLink 自行擴充使用者自訂元件。
未知元件搜尋
當不確定待測 IC 型號時，可利用搜尋功能比對內建資料庫，協助辨識未知的數位積體電路。
迴圈測試捕捉間歇故障
內建條件式迴圈 (loop) 測試模式可反覆執行測試，有效偵測不穩定或間歇性失效的元件。
個別接腳診斷
提供逐腳的診斷資訊，協助工程師精準定位故障腳位，加速數位電路的維修判讀。
USB 連線與 CompactLink
透過 USB 介面搭配選購的 CompactLink 軟體，可新增元件至資料庫並建立符合特殊應用的功能測試。
典型應用場景
電路板維修
PCB 故障診斷與零件驗證
維修工程師在更換元件前，先將可疑 IC 取下，插入 ChipMaster Compact Pro 的 ZIF 插座進行離線功能測試，立即確認是元件本身失效還是外圍電路問題，避免盲目更換好零件所造成的工時與物料浪費。
間歇性故障
迴圈測試模式揪出偶發性失效
對於時好時壞的 TTL、CMOS 或記憶體 IC，工程師啟用迴圈測試模式持續施壓，讓溫度或電氣邊界條件觸發潛在缺陷，大幅縮短追查間歇性失效所需的時間，快速鎖定須替換的元件。
來料管控
庫存零件真偽篩查與型號辨識
採購或 MRO 倉庫人員面對標示模糊或來源不明的 IC 時，可透過 ChipMaster Compact Pro 的元件搜尋功能比對內建資料庫，確認型號並自動建議相容替代品，有效降低偽劣元件流入生產線的風險。
選配與配置
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標準配備（已包含）
硬體選配
軟體選配
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